准确测定钨矿石的主次组分能够为钨矿石的冶炼和深加工提供关键数据,还对研究其矿物组成、钨矿床的资源开发和综合利用具有指导意义。通过优化样品粒度、粘结剂的类型及用量等条件,建立粉末压片—X射线荧光光谱同时测定钨矿石中的15种主次组分的分析方法。采用光谱纯的氧化物与钨矿石标准物质GBW 07241按不同质量比配制校准样品,解决校准系列的基体匹配和浓度梯度问题,并通过理论α系数法进一步校正基体效应和谱线重叠效应。结果表明:当样品粒度小于74μm,加入粘结剂硼酸的质量分数为2%时,在40 MPa压力下保持15 s,可以制成表面光滑、结果重现性好的样片。以钨矿石标准物质GBW 07369为研究对象,经理论α系数法进一步校正后得到的分析结果的相对标准偏差(RSD,n=12)为0.58%~7.79%,测定值与认定值的相对误差ε为-15.32%~5.00%。将该方法用于4个实际钨矿石样品(1#、2#为黑钨矿,3#、4#为白钨矿)中主次组分的测定,其结果与化学法的测定值一致。