评价萤石质量的主要指标之一是其氟化钙和二氧化硅的含量。X-射线荧光光谱法作为一种重要的高通量元素分析技术,具有无损、快速、多元素同时分析等优点。因此,将采用熔融法制备样块进行组分测定,利用X-射线荧光光谱法对该熔块中的氟化钙和二氧化硅组分进行精确测定。测定结果显示,此试验方法与化学法测定值基本一致,试样中氟化钙的线性范围为56.70%~99.04%,相对标准偏差为0.069;二氧化硅的线性范围为0.65%~33.48%,检出限为0.076%,相对标准偏差为0.470%。实验结果表明,此方法准确度与精准度高,能为准确评价萤石质量提供有效依据。