X-射线荧光光谱法测定萤石中的氟化钙、二氧化硅含量

查看详情 浏览次数:1
作者张婕 ; 罗文
单位新余钢铁集团有限公司;
来源技术与市场
出版年2016
期号04
摘要
应用X-射线荧光光谱法(XRFS)测定了萤石中氟化钙、二氧化硅含量,通过化学法测定萤石中可溶于弱酸的钙量,从总钙量中减去,得出氟化钙中的钙量,从而求得氟化钙含量。方法的精密度和准确度良好,能满足生产要求。

@ 2023 版权所有 中国地质图书馆 (中国地质调查局地学文献中心)

京ICP备 05064591号 京公网安备11010802017129号

建议浏览器: 火狐、谷歌、微软 Edge、不支持 IE