石英晶体元件频率温度参数测试要求标准研究

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单位中国电子技术标准化研究院;
来源中国标准化
出版年2021
期号S1
摘要
本文分析了影响石英晶体元件频率温度变化特性因素,对比分析了不同石英晶体元件标准中频率温度变化特性的测试和计算方法,给出了不同使用领域的石英晶体元件频率温度特性计算要求,为修订GB/T12273.1-2017提供支撑。

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