以天然土状与鳞片状石墨为原料,采用改进Hummers法在不同氧化剂(KMnO4)用量下制得石墨的系列氧化产物,利用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)、傅里叶变换红外(FT-IR)光谱、拉曼(Raman)光谱、紫外-可见(UV-vis)光谱及四探针测试仪对石墨原料及其氧化产物的结构属性与电阻率进行表征。结果表明,经氧化后土状与鳞片状石墨结构层上均接有羟基(C-OH)、环氧(C-O-C)、羧基(COOH)或羰基(C=O)等含氧官能团,但在相同KMnO4用量下土状石墨的氧化产物结构中含有更少的C-O-C和更多的COOH和C-OH。在KMnO4用量较低时,鳞片状石墨更易被氧化;在KMnO4用量较高时,土状石墨则更易被氧化。随着KMnO4用量的增加,土状与鳞片状石墨的结构有序程度与导电性均逐渐降低,但在相同的KMnO4用量下土状石墨氧化产物的结构有序程度更低,导电性更弱。