H_2对HfO_2衬底上等离子体增强化学气相沉积石墨烯的影响

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单位河北工业大学电子信息工程学院;天津市电子材料与器件重点实验室;
来源稀有金属与硬质合金
出版年2023
期号05
摘要
HfO_2薄膜和石墨烯是用于制作石墨烯场效应晶体管的主要材料,而采用PECVD(等离子体增强化学气相沉积法)在HfO_2衬底上原位生长石墨烯是极具潜力的一种石墨烯制备方法,这种方法有助于降低石墨烯转移过程对石墨烯质量的影响,从而提高石墨烯场效应晶体管的性能。使用真空电子束蒸镀方法在重掺杂单抛硅片衬底上分别于50、150、250℃下沉积了100 nm厚的HfO_2薄膜样品;随后选用最优质量的HfO_2薄膜作为生长石墨烯的衬底,采用PECVD方法在温度为600℃、CH_4流速为4 sccm的条件下,以不同的H_2流速(0、5、10、15、20 sccm)原位生成石墨烯薄膜。结果显示,150℃下蒸镀的HfO_2薄膜粗糙度最低,表面最平整,同时也拥有最佳的介电性能。当H_2流速为10 sccm时,可获得少层石墨烯薄膜,此时的石墨烯薄膜缺陷最小,表面平整且连续性好。通过对HfO_2衬底上石墨烯的生长机理进行分析发现,HfO_2衬底的低表面能导致含碳物种难以吸附到衬底上,石墨烯不易生长,但适当的H_2参与可以有效降低CH_4裂解反应的活化能,促进CH_4的裂解,有利于生长出大面积的连续型石墨烯薄膜。

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