XRF法分析铀矿比对样品中的40 K摘要
采用X荧光光谱法(XRF)测定铀矿比对样品中的40 K,进行实验室间比对,由比对结果直方图可看出,评价满意;同时,在实验室内部与其他两种方法——高分辨率电感耦合等离子体质谱法(HR-ICP-MS)及低本底γ能谱法的检测结果比较,3种方法的结果具有很高的一致性。以上表明,XRF法测定地质样品中的40 K快速、准确、可信。
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