X射线荧光光谱法测定锰矿中主次成分技术应用研究摘要
采用高频熔样机熔片分解试样、灼烧减量校正,X射线荧光光谱法测定锰矿中的TFe、Si O2、Al2O3、P、Ca O、Mg O、Mn、Na2O、K2O、Ba、Ti O2。方法精密度为0.003%0.133%(RSD,n=12)。准确度也满足地质实验管理规范要求,测试结果准确、可靠。
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