目的基于高精度X荧光分析仪的应用研究。方法介绍了新一代IED-2000D型高精度XRF快速分析仪在青海某地铜矿的应用,并采用特散比法、分支比法对基体效应、谱线重叠效应进行效正。结果 X荧光技术是一种快速、经济、有效的方法。结论适合边远高寒地区铜矿石的测定。